一、 偏光顯微鏡儀器的用途
    偏光顯微鏡選用領先的無窮遠光學系統進行描繪，偏光顯微鏡是地質、礦藏、冶金等部分和關聯高等院校最常用的專業試驗儀器。跟著光學技能的不斷進步，偏光顯微鏡的運用規模也越來越寬廣，許多職業，如化工，半導體工業以及藥品查驗等等，都廣泛地運用偏光顯微鏡。偏光顯微鏡即是十分適用的商品，可供廣闊用戶作單偏光調查，正交偏光調查，錐光調查以及顯微攝影，裝備有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件。偏光顯微鏡是一組具有較齊備功用和杰出質量的新式商品.本儀器的具有可擴展性，能夠接計算機和數碼相機。

二、偏光顯微鏡的技術參數
    總放大倍數：40X---1000X
    無限遠無應力消色差物鏡：4X/0.1 10X/0.25 20X/0.40 40X/0.65 63X/0.85
    目鏡:WF10X/22mm、10X網格目鏡、10X刻度目鏡 、10X分劃目鏡
    試片 ：石膏1λ試片、云母1/4λ試片、石英楔子試片
    測微尺：0.01mm
    濾色片：藍色
    聚光鏡：N.A.1.25帶可變光欄搖擺式聚光鏡
    集光鏡：高亮度固定式照明
    載物臺：360度旋轉，直徑160mm
    移動尺：移動范圍30mm×40mm
    鏡筒：30度鉸鏈式單目觀察（50mm-75mm)
    光源：鹵素燈（6V/30W.AC 85V-230V）亮度可調

三、徠卡DM2700P 偏光顯微鏡

令樣品呈現水晶般清晰透亮

正置偏光顯微鏡 Leica DM2700 P

手動 Leica DM2700 P

獲得最優結果

徠卡DM2700P偏光效果

您可以將 Leica DM2700P 配置為 LED 照明使用透射光或入射光，或者也可以一次性將其配置為使用兩種光源。

進行反射率測量時必須使用入射光，例如觀察礦石或煤炭。

進行雙折射測量時則需要使用透射光，例如檢測地質薄片、聚合物薄膜或藥品。

在地質研究等特殊應用中，兩種光都必不可少。

當顯微鏡配置為使用入射光和透射光兩種光時，相關物鏡 (帶或不帶蓋玻片校正功能) 應從 >10 倍的放大倍率開始使用。

研究光學屬性

超強靈活性：Leica DM2700 P

靈活的徠卡DM2700P

如果您不需要全自動化和最大可再現性，Leica DM2700 P 就是您的最佳儀器選擇。除自動化以外，它還能提供毫不遜色于 Leica DM4 P 的靈活性。

在 5 位可調中物鏡轉盤上使用 5 個物鏡獲取準確無誤的樣品信息

在 22-mm 視場中獲得大概覽圖

借助入射光觀測的 UC-3D 照明，獲得效果更佳的對比度

您的選擇：Leica DM2700 P

性價比好的徠卡DM2700P

堅固的支架和直觀的功能是成功完成日常普通和高級任務的關鍵。

高度模塊化

UC-3D 照明

彩色編碼的光圈輔助

5 位可調中物鏡轉盤

2 檔或 3 檔調焦驅動器

頂部調焦限位

LED 照明

錐光學模塊范圍廣泛

無應力光學部件

360° 旋轉臺，帶或不帶 45° 卡位裝置

偏光設備范圍廣泛

固定或可變補償器，符合 DIN 58879

激光鐫刻臺標記，經久耐用

4 個獨立的可調中物鏡位置，用于在中心旋轉樣品